內部缺陷分析
nanotom m
專注于小尺寸樣品、高分辨率掃描
高分辨率、效率檢測
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孔隙定量化分析
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裝配控制
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小尺寸高密度材料結構分析
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三維尺寸測量
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CAD設計與實物對比
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檢測范圍可擴大
探測器左右移動，提高水平有效成像范圍
致力于實現準確、有效率的檢測目標。
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檢測效率
全系列高精度CT產品
在保證高質量高水平檢測下，檢測時間由幾個小時縮短到幾分鐘。
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焦距可調
溫度穩定型鉛房
相同圖像質量下，有效節約掃描時間
獨特的溫度穩定的數字 DXR探測器，高動態范圍，支持1.5倍擴展。
焦距可調節，用于調節放大倍率與探測器照射能量大小，獲得極高的圖像質量。
helix|CT（螺旋CT）可用于提高圖像質量，簡單、有效率地提高樣品檢測率。
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01水冷長壽命平板探測器
更高的分辨率；
更快的檢測效率；
更優質的圖像質量； -
02diamond鉆石靶
可完成高水平的圖像的采集，
數據采集速度快達2倍. -
03helix|CT螺旋CT
采用螺旋CT提升圖像質量，
在效率、易操作的前提下，提高檢測效率. -
04氣浮轉臺
納米級旋轉精度，
提高系統掃描質量. -
05溫度穩定型鉛房
控溫鉛房，
提供高精度掃描環境. -
06phoenix datos|x CT軟件
圖像采集、數據重建、數據處理、樣品評估全自動化進行。
nanoCT
滿足高分辨率掃描的同時，nanoCT的潛力、便捷和經濟性可在各種應用領域
與同步輻射光源相媲美。
與同步輻射光源相媲美。
研發創新
全新的180kV高功率、成品、開放式納米焦點X射線管，細節分辨率可達200nm，
穩定性強。
高精度3D尺寸測量
獨特的溫度自穩定型 DXR 數字平板探測器 700萬像素，動態范圍>10,000:1，數據采集速度提高近4倍。
- 內部缺陷分析/3D孔隙量化統計
- 裝配控制
- 材料結構分析
- CAD設計與實物對比
- 三維尺寸測量 /壁厚分析
- 逆向工程/模具補償
提升測量方法和精度
基本參數
| phoenix nanotom m | |
| 射線管類型 |
開放式設計，透射式高分辨率納米焦點X射線管，配置封閉式水冷系統。 |
| 最大電壓 |
180 kV |
| 溫度穩定性 | 射線管冷卻系統|溫度穩定型探測器|溫度穩定型鉛房 |
| 軟件 | phoenix datos|x 3D圖像采集和數據重建軟件，擁有不同的3D軟件包，用于尺寸測量、失效分析和結構檢測。 |
| 輻射安全防護 | 全封閉式自屏蔽防護鉛房，類型滿足德國R?V，法國NFC 74 100 ，美國21 CFR和中國GB18871 等共同標準。 |
